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  • TH511 半導體C-V特性分析儀
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    ■ 一體化設(shè)計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件■ 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選件)三種測試方式■ 四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示■ 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)■ CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描■ 電容快速充電技術(shù),實現(xiàn)快速測試■ 接觸檢查Cont■ 通斷測試OP_SH■ 自動延時設(shè)置■ 柵極電壓VGS:0 - ±40V■ 漏極電壓VDS:0 - ±3000V■ 10檔分選

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